电子探针可以做什么分析？电子探针分析如下:通过电子探针分析方法可以检测出材料样品的化学成分和各元素的重量百分比。电子探针X射线显微分析的特点电子探针显微分析具有以下特点:电子探针是目前定量分析微量元素最精确的仪器，也称为电子探针X射线微量分析，电子探针电子探针(EPMA)也称为X射线微分析仪(见图227)，利用电子探针的X射线微区分析方法和电子探针的定性分析方法将电子束固定在待分析的微区上。用分光计分析时，可以通过改变分光晶体和探测器的位置来获得分析点的X射线谱线，用能谱仪分析时，可以在几分钟内直接从荧光屏(或电脑)上获得微区所有元素的谱线。
1、《ScriptaMater》利用单晶XRD和EPMA解析绿光荧光粉发光中心结构
磷光白光发光二极管(pcWLEDs)广泛应用于液晶显示器的节能照明和背光照明。在显示应用中，有必要实现窄带绿色和红色发光磷光体的宽色域。用Si6Zalzon8z: Eu2 (β sialon: Eu2)表示的掺Eu2βsi alon荧光屏，能发射窄带绿光(宽度4560nm)，量子效率高。βsialon:Eu2不仅具有较高的化学和热稳定性，而且具有较小程度的热猝灭发光。
然而，由于Si4和Al3的离子尺寸远小于Eu2的离子尺寸，在βsialon的阳离子位置取代Eu2是相当困难的。在βsialon晶体结构中，(Si，Al)(O，N)4四面体形成三维网络，其一维通道平行于C轴，Eu原子占据一维通道的间隙位置。低温光谱证实βsialon晶格中的Eu2能发射窄带绿光。
2、矿物成分分析方法
1。有色金属矿(13个品种)1。测试产品:铜矿石(21个参数)(铜、铅、锌、镉、镍、钴、砷、铋、钼、钨、铬、硫、镓、锗、硒、碲)铜矿石物相分析:(硫酸铜、碲)-1993铜矿石化学分析方法DZG20.01-1991《岩石矿物分析》铜矿石物相分析2。试验产品:锡矿(4个参数)(锡)锡矿相分析:(锡石、黝铜矿和胶体中的氧化锡)试验标准:GB/T 15924-1995锡矿化学分析方法DZG 20。检测产品:锌矿(21个参数)(铜、铅、锌、镉、镍、钴、砷、铋、钼、钨、铬、硫、镓、锗、硒、碲)检测标准:GB/T 14353。(1 ~ 16)-1993锌矿化学分析方法4。
3、举例说明电子探针的三种工作方式(点、线、面
定点分析:对样品表面选定的微区进行定点全光谱扫描，进行定性或半定量分析，定量分析其中所含元素的质量分数。比如定点分析合金析出相和夹杂物的成分，进行鉴别；精细新相化学成分的定点分析。线扫描分析:电子束在样品表面沿选定的直线轨迹扫描，对所含元素的质量分数进行定性或半定量分析。例如，线扫描分析用于确定物质内相区或界面元素的富集和贫化；
对材料表面化学热处理后的表层组织进行了分析和测定。表面扫描分析:电子束对样品表面进行光栅表面扫描，阴极射线管屏幕的亮度被特定元素的X射线的信号强度调制，得到该元素质量分数分布的扫描图像。例如，分析掺杂元素在掺杂基体中的分布和均匀性；将元素质量分数分布的不均匀性与材料的微观结构联系起来，可以对材料进行更全面的分析。
4、电子探针的简介
image-4/electron micro probe，全称电子探针X射线微分析仪，又称微区X射线光谱分析仪。可以对样品进行微区成分分析。除了H、He、Li、Be等几种较轻的元素外，U之后的所有元素都可以进行定性和定量分析。电子探针的批量生产是利用一束加速聚焦的超窄电子束作为探针，激发样品中的微小区域发出特征X射线，并确定X射线的波长和强度，从而对微小区域内的元素进行定性或定量分析。
5、电子探针X射线微区分析的方法及应用
电子探针的定性分析方法将电子束固定在待分析的微观区域上，用光谱仪分析时，通过改变分光晶体和探测器的位置，可以得到分析点的X射线能谱；用能谱仪分析时，可以在几分钟内直接从荧光屏(或电脑)上获得微区所有元素的谱线。镁合金中析出相CaMgSi的鉴定在光谱1中析出相富含Ca、Mg和Si。这种元素沿直线的浓度分布可以通过电子束沿指定方向沿直线扫描获得。
6、电子探针分析的基本介绍
一种材料物理实验，又称电子探针X射线显微分析，利用聚焦的高速电子激发样品表面元素的特征X射线，对微区成分进行定性或定量分析。电子探针分析的原理是:用动能为10 ~ 30千电子伏的细聚焦电子束轰击样品表面，敲出表面元素的内部电子，使原子电离。此时，外层电子迅速填充空位并释放能量，从而产生特征X射线。利用波长色散光谱仪(或能量色散光谱仪)和检测计数系统，
在不损失样品的情况下，电子探针通常可以分析直径和深度不小于1微米、原子序数大于4的所有元素；然而，对于原子序数小于12的元素，其灵敏度较差。常规分析的典型检测相对灵敏度为万分之一，某些情况下可达十万分之一。检测的绝对灵敏度因元素而异，一般为1014 ~ 1016克。该方法可以方便地分析点、线、面上的元素，并得到元素分布的图像。
7、电子探针
电子探针(EPMA)也称为X射线显微分析仪(见图227)。它用聚束高能电子束轰击宝石样品表面，在微米级有限深度和横向扩展的微区体积内激发，产生特征X射线、二次电子、背散射电子、阴极荧光等。大多数现代电子探针都装有X射线能谱仪。根据不同的X射线分析方法(光谱仪或能谱仪)，可以定量或定性地分析物质组成元素的化学成分、表面形貌和结构特征，是一种有效的、无损的宝石化学成分分析方法。
扫描发生器将电子束按时间和空间的先后顺序打在样品室的宝石样品上，随时收集产生的二次电子。二次电子是核外电子，在电子束轰击宝石时，将宝石样品的浅层表面原子驱逐出去。由于具有一定能量的电子束所排出的二次电子的激发效率与宝石样品中元素的电离能和电子束与宝石样品的夹角有关，因此可以根据二次电子的强度来分析宝石样品的形貌。
8、电子探针X射线微区分析的电子探针分析的特点
电子探针微量分析具有以下特点:电子探针是目前定量分析微量元素最精确的仪器。电子探针的检出限(可检测的元素最低浓度)一般为(0.01-0.05) wt%。不同的测量条件和不同的元素具有不同的检测限。但由于分析规模较小，检测的绝对灵敏度极限约为1014g，定量分析的相对误差为(13)%。对于原子序数大于11且含量大于10wt%的元素，相对来说
9、电子探针可以做哪些分析
电子探针分析如下:通过电子探针分析可以检测出材料样品的化学成分和各元素的重量百分比。分析前，应根据测试目的制备样品，样品表面应清洁。用光谱仪分析样品时，样品应该是平的，否则测得的X射线强度会降低。1.点分析:用于确定样品上特定点的化学成分。下图是用能谱仪得到的一种钢的定点分析结果。能谱仪中的多道分析器可以同时探测和显示样品中所有元素的特征X射线信号。
2.线分析:用于确定元素沿给定直线的分布。方法是将X射线谱仪(谱仪或能谱仪)固定在待测元素特征X射线信号(波长或能量)的位置，用电子束沿指定方向直线扫描，得到该元素特征X射线强度沿直线的变化，从而反映该元素沿直线的浓度分布，3.表面分析:用于确定元素的表面分布。该方法是将X射线光谱仪固定在待测元素特征X射线信号的位置，电子束在样品表面进行光栅扫描，此时，可以在荧光屏上看到该元素的面积分布图像。